JIS X0520:2001 バーコードシンボル印刷品質の評価仕様−1次元シンボルBar code print quality test specification−Linear symbols
1.適用範囲
この規格は，印刷又は印字された 1 次元シンボルの特性を詳細に測定する方法を規定し，それぞれの測定値を評価する方法及びシンボル品質を総合的に評価する方法を規定する。また，1 次元シンボルの特性が最適なグレードから外れる原因を示し，利用者が適切に機器の調節を行うことができるようにする。この規格は，参照復号手順を規定し，直線的な走査方法を用いて読み取る 1 次元シンボルに適用するが，この方法は部分的又は全体的に，それ以外のバーコードシンボルにも適用できる。備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。なお，対応の程度を示す記号は，ISO/IEC Guide 21 に基づき，IDT（一致している），MOD（修正している），NEQ（同等でない）とする。ISO/IEC 15416 : 2000 Information technology−Automatic identification and data capture techniques−Bar code print quality test specification−Linear symbols (IDT)
2. 引用規格 ISO/IEC 15416 : 2000の 2.Normative references による。
3.定義 この規格で用いる主な用語の定義は，次のとおりとする。
3.1バー (bar) 走査反射率波形の全域的しきい値より低い領域に対応する，反射率の低いエレメント。3.2バー反射率 (bar reflectance) 走査反射率波形における，個々のバー反射率の最小値。
3.3復号容易度 (decodability) 理想的な寸法から最もかけ離れたエレメントから算出する，理想的なエレメント寸法と参照しきい値との間の余裕度。
3.4復号 (decode) バーコードシンボルに符号化された情報の判読。3.5エッジコントラスト (edge contrast) ふたつの隣り合うバー反射率とスペース反射率との差。
3.6エレメント反射率の非均一性 (element reflectance non-uniformity) 個々のエレメント又はクワイエットゾーンの走査反射率波形における最大反射率と最小反射率との差。
3.7全域的しきい値 (global threshold) 最初にエレメントの識別をするために用いる，走査反射波形における最大と最小反射率の中間の反射率。
3.8光沢 (gloss) 入射光を鏡のように反射させる表面の性質。3.9測定領域 (inspection band) 測定が行われる領域（通常 1 次元シンボルの高さの 10%∼90%まで）。3.10測定開口 (measuring aperture) バーコードシンボルの有効な標本を得るための円形の開口で，1 : 1の倍率となる場合，その直径は測定領域の直径と等しい。
3.11変位幅 (modulation) 最小エッジコントラストとシンボルコントラストとの比。
3.12 (n，k) シンボル体系 [(n，k) symbology] 1 次元シンボルの分類の一つ。それぞれのシンボルキャラクタは n モジュールの幅で，k 本のバーと k 本のスペースの組で構成する。参考 例えば EAN/UPC 及びコード 128 が該当する。3.13山 (peak) 走査反射率波形における高い反射率の点。両側に低い反射率の点がある。
3.14標本化領域 (sample area) 測定装置の視野内に入る，シンボルの有効な領域。\3.15走査反射率波形 (scan reflectance profile) シンボルを走査する線に沿って，反射率の変化をプロットしたもの。
3.16走査線 (scan path) クワイエットゾーンを含むシンボルを横切る，標本化領域の中心線。
3.17スペース (space) 走査反射率波形の全域的しきい値より高い領域に対応する，反射率の高いエレメント。
3.18スペース反射率 (space reflectance) 走査反射率波形における，個々のスペース，クワイエットゾーン又はキャラクタ間ギャップの反射率の最大値。
3.19 2値幅シンボル体系 (two-width symbology) 1 次元シンボルの分類の一つ。それぞれのシンボルキャラクタは，互いに一定の比率の幅をもつ細エレメントと太エレメントだけで構成する。参考 例えば，インタリーブド 2 オブ 5 及びコード 39 が該当する。
3.20谷 (valley)
走査反射率波形における低い反射率の点。両側に高い反射率の点がある。3.21高さ方向の余裕度 (vertical redundancy) 複数の走査線での走査を可能とするシンボルの特性。単一の走査線の幅と比較して，かなり高いシンボルは余裕度が大きい。
JIS X0520:2001
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